下一代OTN 芯片的验证方法学

Verification Methodology on Next Generation OTN chip

  演讲人：

张睿

武汉飞思灵微电子技术有限公司

逻辑开发专项经理

Zhang Rui

DV Director of Wuhan Fisilink Microelectronics Technology Co., Ltd.

演讲人简历：

张睿：

2006 年毕业于华中科技大学电子科学与技术系，获学士学位。

2008 年毕业于华中科技大学电子科学与技术系，获微电子与固体电子学硕士学位。

2009-2016年任职于烽火通信科技股份有限公司微电子部。

2016年至今：任武汉飞思灵微电子技术有限公司逻辑开发专项经理。

Zhang Rui：

2006, Bachelor Degree, Department of Electronic Science and Technology, Huazhong University of Science and Technology (HUST).

2008, Master Degree, Microelectronics and Solid State Electronics, Huazhong University of Science and Technology (HUST).

2009-2016, Department of Microelectronics, Fiberhome Telecommunication Technologies Co.,LTD.

2016-Now, DV Director of Wuhan Fisilink Microelectronics Technology Co., Ltd.

报告摘要：

1）介绍传统验证方法学在OTN芯片开发中遇到的挑战。

2）介绍下一代OTN芯片的特点。

3）分享武汉飞思灵微电子技术有限公司在下一代OTN芯片开发中采用的验证方法学。

     1) Introduce the challenges of traditional verification methodology in the OTN chip development.
     2) Introduce the characteristics of the next generation OTN chip.
     3) Share verification methodology used in the development of next generation of OTN chip in FISILINK.