R&S研讨会在线注册
会议介绍

R&S IC测试技术研讨会

会议主题

R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计创新

-2017R&S 射频集成电路测试技术研讨会

站点

无锡26/12

苏州28/12


 

会议简介

       罗德与施瓦茨公司,总部位于德国的慕尼黑,是国际上著名的跨国公司,活跃于测试与测量,信息技术与无线通信领域,其子公司和代表处遍及世界70多个国家,公司依靠所拥有的广泛的专有技术和员工旺盛的创新精神,在涉足的各个领域中都处于技术领先者的地位。作为全球最大的电子和无线移动通信测试设备厂商之一,自进入中国的二十多年来,R&S在无线通信,国防军工,通用电子领域提供了大量的品质卓越的测试设备和先进的技术解决方案,为中国电子行业的发展起了极大的推动作用,同时也树立罗德与施瓦茨非常好的口碑和形象。本次研讨会是R&S专门在IC企业里,推广R&S的产品和RFIC测试解决方案,为客户提供便利和帮助,同时加强在半导体市场的影响力,助力IC企业的发展。

 

会议议程

时间

议程

1315-1345

签到

1345-1400

开场介绍

1400-1440

R&S 最新IoT测试技术

1440-1520

通用无线收发芯片测试技术

1520-1535

休息

1535-1615

射频放大器芯片设计优化与测试技术

1615-1655

收发芯片内部电路测试难点及解决方案

1655-1700

互动,抽奖

 

演讲嘉宾

R&S 产品专家  博士 资深工程师

 

礼品:

待定

 

演讲主题概述:

R&S最新IoT测试技术

        罗德与施瓦茨的无线测试解决方案已被全球主要的设备供应商、芯片供应商、以及移动通信运营商广泛使用,具有业界领先的无线测试解决方案。

        R&S产品支持所有常见的蜂窝和非蜂窝无线技术,可以对GSM,CDMA,LTE,VoLTE, NB-IoT, WIMAX, WLAN, Bluetooth, ZigBee, GPS等标准芯片进行全面测量,对于各种连接技术及其组合,都可以提供相应的解决方案,并可满足开发和生产,射频和协议的测试需求,提供最大的灵活性。物联网应用技术的快速发展,也离不开测试方案的大力支持,R&SIoT测试方案绝对是您的产品快速上市的一大助力。

 

通用无线收发芯片测试技术

        众所周知,我们已经进入了5GIoT时代,无线信号的传输已变得越来越复杂和多种多样,这也给收发芯片的设计带来了诸多的挑战,尤其是多模多标准无线芯片的设计与实现,本议题着重从各标准无线信号的产生和分析入手,讲述如何验证收发芯片的性能和指标。讲述R&S仪器在这两个方面所带来的创新和发展,以及对无线测试和分析所带来的便利和促进。

 

放大器芯片设计优化与测试技术

从时域和频域两个方面对收发芯片进行测试和分析诊断,是进行研发的一个非常有效的手段,R&S示波器时频域联合分析技术结合了时域波形和频域频谱功能,可以实现很多以前不能做到的测试。同时,还将展示时域信号的准确测试,如控制信号,中频输出信号,锁相环,VCO,以及板级干扰信号的分析和诊断方案。此外,对于各种接口芯片,电源芯片,R&S的示波器也有非常特色的测试解决方案。

 

收发芯片内部电路测试难点及解决方案


        对于射频收发机来说,内部模块的好坏和性能指标的优劣直接影响到整个收发机的系统性能,特别是收发芯片的研发设计,如何提高内部电路的性能指标就显得尤为重要,本议题中R&S将讲述锁相环,相噪测试,混频器,VCO,调制解调器,射频开关,功率测试等诸多方案,特别是对于这些电路中的测试难点和挑战,R&S更是有一些非常独特而特色的方案与您分享,并进一步讲述如何通过测试来优化电路的设计。


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